Hyppää hakukenttään
Hyppää sivun pääsisältöön
Hyppää saavutettavuusselosteeseen
Tiedejatutkimus.fi
Valikko
Suomeksi
På svenska
In English
Etusivu
Haku
Tiede- ja innovaatiopolitiikka
Tiede- ja tutkimusuutiset
Suomeksi
- 835 hakutulosta
Julkaisut
835
Rahoitushaut
0
Myönnetty rahoitus
0
Tutkijat
0
Aineistot
0
Infrastruktuurit
0
Organisaatiot
0
Hankkeet
0
Julkaisut -
835
hakutulosta
Hyppää hakutuloksiin
Näytä kuvana
Rajaa hakua
Näytetään tulokset 1 - 10 / 835
10
50
100
tulosta / sivu
Mitä
julkaisu
tietoja palvelu sisältää?
Julkaisun nimi
Tekijät
Julkaisukanava
Vuosi
Electrostatic
Threats in Hospital Environment
Vertaisarvioitu
Viheriäkoski, Toni;Kokkonen, Mika;Tamminen, Pasi;Karja, Eira;Hillberg, Jukka;Smallwood, Jeremy
Electrical Overstress
Electrostatic
Discharge
Symposium
2014
Electrostatic
discharge
characteristics of conductive polymers
Vertaisarvioitu
Viheriäkoski, Toni;Kärjä, Eira;Gärtner, Reinhold;Tamminen, Pasi
ELECTRICAL OVERSTRESS/
ELECTROSTATIC
DISCHARGE
SYMPOSIUM
2017
Uncertainties in surface resistivity measurements of
electrostatic
dissipative materials
Vertaisarvioitu
Viheriäkoski, Toni; Tamminen, Pasi; Laajaniemi, Matti; Kärjä, Eira; Hillberg, Jukka
Electrical Overstress/
Electrostatic
Discharge
Symposium
2013
ESD and Disturbance Cases in
Electrostatic
Protected Areas
Vertaisarvioitu
Avoin saatavuus
DOI
10.1109/EOSESD.2015.7314792
Tamminen, Pasi; Viheriäkoski, Toni; Ukkonen, Leena; Sydänheimo, Lauri
ELECTRICAL OVERSTRESS/
ELECTROSTATIC
DISCHARGE
SYMPOSIUM
2015
Optimizing investment in ESD control
Vertaisarvioitu
Smallwood, Jeremy;Tamminen, Pasi;Viheriäkoski, Toni
Electrical Overstress
Electrostatic
Discharge
Symposium
2014
Field Collapse Event ESD Test Method
Vertaisarvioitu
Tamminen, Pasi;Viheriäkoski, Toni;Reinvuo, Tuomas;Sydänheimo, Lauri;Ukkonen, Leena
Electrical Overstress
Electrostatic
Discharge
Symposium
2014
ESD Sensitivity of 01005 Chip Resistors and Capacitors
Vertaisarvioitu
Tamminen, Pasi;Sydänheimo, Lauri;Ukkonen, Leena
Electrical Overstress
Electrostatic
Discharge
Symposium
2014
Electrostatic
field limits and charge threshold for field induced damage to voltage susceptible devices
Vertaisarvioitu
DOI
10.1109/EOSESD.2004.5272605
Paasi, Jaakko; Salmela, Hannu; Smallwood, Jeremy
26th Electrical Overstress/
Electrostatic
Discharge
Symposium, EOS/ESD 2004
2004
Electrostatic
discharge
of charged electronic modules
Paasi, Jaakko
2nd Nordic ESD Conference
2006
The effect of USB ground cable and product dynamic capacitance on IEC61000-4-2 qualification
Vertaisarvioitu
Avoin saatavuus
DOI
10.1109/EOSESD.2015.7314766
Tamminen, Pasi; Ukkonen, Leena; Sydänheimo, Lauri
ELECTRICAL OVERSTRESS/
ELECTROSTATIC
DISCHARGE
SYMPOSIUM
2015
Electrostatic
Threats in Hospital Environment
Vertaisarvioitu
2014
Electrostatic
discharge
characteristics of conductive polymers
Vertaisarvioitu
2017
Uncertainties in surface resistivity measurements of
electrostatic
dissipative materials
Vertaisarvioitu
2013
ESD and Disturbance Cases in
Electrostatic
Protected Areas
Vertaisarvioitu
Avoin saatavuus
DOI
10.1109/EOSESD.2015.7314792
2015
Optimizing investment in ESD control
Vertaisarvioitu
2014
Field Collapse Event ESD Test Method
Vertaisarvioitu
2014
ESD Sensitivity of 01005 Chip Resistors and Capacitors
Vertaisarvioitu
2014
Electrostatic
field limits and charge threshold for field induced damage to voltage susceptible devices
Vertaisarvioitu
DOI
10.1109/EOSESD.2004.5272605
2004
Electrostatic
discharge
of charged electronic modules
2006
The effect of USB ground cable and product dynamic capacitance on IEC61000-4-2 qualification
Vertaisarvioitu
Avoin saatavuus
DOI
10.1109/EOSESD.2015.7314766
2015
Edellinen
1
2
3
4
5
Seuraava
Näytetään tulokset 1 - 10 / 835
Sivu 1
Sort
